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【客户端新闻时刻】
当光影交织，科技与未来相遇，一场光电领域的国际盛会正悄然临近。第25届国际光电博览会（CIOE2024）即将在金秋时节盛大开幕，这不仅是一场技术的展示，更是一次思想的盛宴，一次行业的深度交流。
CIOE一直以来都是创新技术的展示舞台和行业趋势的风向标。它不仅是一个展示最新光电产品和技术的平台，更是一个促进国际交流与合作的重要窗口。作为全球光电行业的重要盛会，CIOE2024将汇聚世界各地的顶尖企业和科研机构，展示最新的研究成果和创新产品。预计将有数万名专业观众和行业专家齐聚一堂，共同探讨光电科技的未来趋势。
会上将展出各类前沿的光电技术产品：从高精度的光学元件到先进的激光设备，从智能光电传感器到创新的显示技术，每一个展品都凝聚着科技的力量和创新的智慧。众多知名企业将带来的最新产品和解决方案，展示企业的强大实力，也为行业的发展注入了新的活力。在这里，你将可以看到光电技术在通信、医疗、工业制造、消费电子等多个领域的广泛应用，感受到光电科技给我们生活带来的巨大变革。
在这场即将到来的科技盛宴中，中图仪器将携其多款高端光电检测设备亮相，让我们提前一睹为快：
1、SuperView WT3000复合型光学3D表面轮廓仪
这款设备集成了白光干涉仪和共聚焦显微镜的性能特点，能够对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。无论是半导体制造、3C电子产品，还是航空航天领域，都能提供精确的3D表面图像和参数分析。
NS系列台阶仪以其超精密接触式测量技术，广泛应用于测量台阶高、膜层厚度等微观形貌参数。其高分辨率和测量重复性，使其成为科研和工业应用中不可或缺的工具。
闪测仪采用先进的光学镜头和图像分析算法，实现一键式快速精准测量。它提高了批量测量的效率，适用于机械加工件、塑胶件、电子电路等多个领域。
全自动影像仪结合了传统影像测量与激光测量扫描技术，实现2.5D和3D复合测量。它的高速测量能力和强大的软件功能，使其在精密测量领域独树一帜。
三坐标测量机以其高精度和稳定性，适用于各种零部件的尺寸、形状及相互位置关系的检测，是现代工业检测和质量控制的重要设备。
专为晶圆几何量测设计的WD4000系列，能够自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌等参数，是半导体行业的理想选择。
CIOE2024不仅是展示产品的平台，更是一个促进技术交流和思想碰撞的舞台。展会期间，除了精彩的展品展示，CIOE2024 还举办一系列高规格的论坛和研讨会。行业专家们在这里分享他们的最新研究成果和行业洞察，探讨光电行业的未来发展趋势。
第25届国际光电博览会（CIOE2024）在即，我们邀您于9月11日-9月13日，在深圳国际博览中心（宝安新馆）3A58，一同见证光电科技的无限魅力，探索光与电的更多可能。让我们在这场科技盛宴中，共同迎接光电行业的辉煌未来。
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